泰克数字分析仪采样示波器DSA8300

泰克数字分析仪采样示波器DSA8300

DSA8300 是一款先进的等效时间采样示波器，为通信信号分析、串行数据网络分析以及串行数据链路分析应用提供zui高的保真测量和分析功能。

泰克数字分析仪采样示波器DSA8300关键性能指标

• 超低时基抖动：
  • 在同时采集的zui多 8 条通道上，典型值为 425 fs
  • 使用 82A04B 相位参考模块时，在zui多 6 条通道上 <100 fs
• *的垂直分辨率 – 16 位模数转换器
• 电接口分辨率： <20 μV LSB（适用于 1 V 全量程）
• 光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW
• >80 GHz 的光接口带宽
• 电接口带宽 >70 GHz
• 为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能
• 80 多种行业标准模板，自动进行模板测试

主要功能

• 通过当前采样模块系列，DSA8300 支持同时采集zui多 8 个信号
• 多种光接口、电接口和附件模块，满足您的特定测试要求
• 光接口模块
  • 全面集成光接口模块，支持 155 Mb/s 至 100 Gb/s 的所有标准光接口数据速率
  • 经过认证的光接口参考接收机，支持标准规定必须进行的*性测试的要求
  • >80 GHz 的光接口带宽
  • 光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围，可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准
  • 经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗
  • 经过校准的消光比测量，在采用这一出厂校准选项模块时，系统间消光比测量可靠性 <0.5 dB
• 电接口模块
  • 超低噪声电接口采样器（20 Ghz 时为 280 μV，60 Ghz 时为 450 μV，典型值）
  • 可以选择带宽1允许用户用采样器带宽和噪声换取*的数据采集性能
  • 远程采样器2或紧凑的采样扩展模块电缆，采样器可以放在被测器件附近，使信号劣化达到zui小
  • 世界上性能zui高的集成 TDR（10 ps 典型阶跃上升时间），高效检定阻抗不连续点，高动态范围，执行高达 50 Ghz 的 S 参数测量
• 分析
  • 为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了一套完整的超过 120 种自动测量功能
  • 80 多种行业标准模板，自动进行模板测试。 新模板可以导入到 DSA8300 中，支持新出现的标准。 此外，用户可以为自动模板测试定义自己的模板
  • 垂直直方图和水平直方图，对波形进行统计分析
  • 垂直光标、水平光标和波形光标(带测量数据)
  • 通过 80SJNB 基本和高级应用软件选项提供抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析
  • 通过 IConnect® 应用软件选项提供高级 TDR 分析、S 参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能
• 高测试吞吐量
  • 每条通道高达 300 kS/s 的采样采集速率
  • 高效编程接口（IEEE-488、以太网或本地处理器接入）实现高测试吞吐量

1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模块。

2 仅适用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。

应用

• 设计/检验电信和数据通信器件和系统
• ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/*性测试
• 高性能真正差分 TDR 测量
• 串行数据应用阻抗检定和网络分析，包括 S 参数
• 高级抖动、噪声和 BER 分析
• 通道和眼图仿真及基于测量的 SPICE 模型

杰出的性能，优异的通用性

DSA8300 数字串行分析仪为开发和测试采用几千兆位数据传输技术的通信、计算机和消费电子提供了用途zui广泛的工具。 它可以用来对这些产品中使用的器件、模块和系统的光接口和电接口发射机进行检定及*性测试检验。

此外，DSA8300 特别适合电接口信号路径检定，包括封装、PCB 或电缆。 由于杰出的带宽、信号保真度及可扩展性zui强的模块化模块，DSA8300 为当前和新兴串行数据技术提供了zui高性能的 TDR 和互连分析能力、zui准确的信号损伤分析能力以及 BER 计算功能。

光接口眼图测试

无源互连测试

zui后，由于杰出的信号保真度和分辨率，对要求超高带宽、超精细垂直分辨率、低抖动和/或杰出时间间隔精度的电接口和光接口应用，DSA8300 提供了黄金标准。

DSA8300 拥有*的测量系统保真度及zui低的基本仪器抖动本底（对 >1.25 Gb/s 的串行数据信号，典型值为 425 fs RMS），保证zui准确地同时采集zui多 8 个高带宽信号。 使用相位参考模块 (82A04B) 时采集抖动可低至 100 fs RMS，使分析效果更佳。

多处理器结构及每插槽数字信号处理器 (DSP) 提供了快速波形采集速率，缩短了进行可靠的检定和*性测试所需的测试时间。

DSA8300 的通用模块化结构支持大量的且不断增加的插件，您可以为测量系统配置各种您当前应用和未来应用的电接口模块、光接口模块和附件模块。 DSA8300 提供了 6 个模块插槽，可以同时容纳一个时钟恢复模块、一个精密相位参考模块和多个电接口或光接口采集模块，可以让系统性能与不断演变的需求相适应。 由于能够在不断电的情况下插拔采样模块，DSA8300（适用于固件版本为 6.1 及以上的示波器）可以根据测试需求变化，更加灵活地配置 DSA8300。

该电接口模块系列拥有业内的信号保真度，包括 20 GHz 到 >70 GHz 的带宽性能，光接口模块支持从 125 Mb/s 到 100 Gb/s 以上的光接口测试，提供了超过 80 GHz 的光接口带宽。 DSA8300 支持所有传统的 8000 系列电接口和光接口采样模块和附件。1

此外，模块配套功能，如单端和差分电学时钟恢复、电接口采样器静电保护及连接流行的 TekConnect® 探测系统，在高阻抗探测和差分探测中提供了*的泰克探头性能。 另外，还提供用于 50 Ω 探测和 TDR 探测的低阻抗探头。

DSA8300 及相关应用软件完善的测量和分析功能进一步增强了 DSA8300 及其采样模块和附件的原始采集性能。 例如，IConnect® 应用软件为无源电接口互连（封装、印刷电路板、背板、电缆等）提供了完整的 TDR、S 参数和信号完整性分析，80SJNB 应用软件则为光接口和电接口串行数据链路提供了完整的抖动、噪声和误码率分析及通道和均衡分析和仿真功能。

1 DSA8300 不支持 80A06 码型同步模块，这一功能已经被 DSA8300 集成高级触发选项（选项 ADVTRIG）所代替。

抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析

抖动、噪声和 BER 分析

三种软件解决方案支持高速串行数据链路测量和分析：80SJARB、80SJNB Essentials 和 80SJNB Advanced。1

• 80SJARB（选项 JARB）是一种基本抖动测量工具，能够测量任何波形（随机波形或重复性波形）上的抖动。其采集简单，限制了可能进行的分析数量，因此只能使用zui简单的分解功能，其可重复性与码型相关。
• 80SJNB Essentials（选项 JNB）可以全面分析抖动、噪声和 BER，支持成分分解，可以清楚地了解信号的问题和余量。这种采集方式要求重复性码型。与 80SJARB 相比，其精度和可重复性都得到改进，因为该工具可以访问完整的信号码型。
• 80SJNB Advanced（选项 JNB02）在 80SJNB Essentials 中增加了多种串行数据链路分析功能，包括夹具反嵌、通道仿真、FFE/DFE 均衡和预加重/去加重。

1 可以购买这些应用软件，安装在现有的带有 DSA83UP 升级套件的 DSA8300 示波器上。

SDLA 分析：SDLA Visualizer 和 JNB 信号路径

SDLA Visualizer 的先进功能现在完善了 JNB 的信号路径功能。通过提供完整的 4 端口反嵌，SDLA Visualizer 扩展了 JNB 信号路径的反嵌和通道仿真功能，它不仅建立插入损耗效应模型，还建立回波损耗和交叉耦合效应模型。SDLA Visualizer 还完善了 JNB中的DFE/FFE 接收机均衡支持，并新增 CTLE 均衡建模功能。

SDLA Visualizer 与 JNB Advanced 中内置的信号路径功能一起运行。在配置 SDLA Visualizer、选择所需的测试点、应用模型后，该应用程序会将选定测试点的滤波器自动加载到信号路径滤波器模块中。

如果要求 DFE 或 FFE 均衡，这些参数可以迅速输入 JNB 信号路径中，然后可以进行zui终测量。

这些只是 SDLA Visualizer 提供的多种功能的部分实例。详情请参阅 SDLA Visualizer 产品技术资料：www.tektronix。。ｃｏｍ。

分析任意数据的抖动 (80SJARB)

DSA8300 系列使用的 80SJARB 抖动测量应用软件适用于要求 J2 和 J9 抖动测量的 IEEE 802.3ba 应用。 它还可让您对 NRZ 数据信号进行基本抖动测量，包括 PRBS31、随机性业务和加扰数据。 这提供了一种入门级抖动分析功能，支持简单的 Dual Dirac 模型抖动分析，没有码型同步要求。

80SJARB 可在自由运行模式下连续采集数据，其采集和更新速率均超过了 IEEE 规定的 10,000 个数据点的zui低要求。

它为测得数据和推断数据提供了抖动和眼图张度浴缸曲线，为采集数据提供了直方图。

80SJARB 抖动分析测量

80SJNB 抖动分析测量

80SJNB 噪声分析测量

80SJNB Advanced（选项 JNB02）

80SJNB Advanced（选项 JNB02） 支持：

• FFE（前馈均衡）至 100 个分接点
• FE（判定反馈均衡）支持 40 个分接点
• 支持从夹具反嵌到发射机均衡的线性滤波器。对一阶谐波频率损耗 >30 dB 的通道，支持通道仿真

TDR（时域反射仪）应用

使用 80E10B 亚毫米分辨率和 IConnect® 真正阻抗轮廓，迅速识别问题的精确位置

DSA8300 是业内性能zui高的全集成时域反射计 (TDR) 测量系统。 DSA8300 提供了高达 50 GHz 带宽的及 15 ps 反射上升时间和 12 ps 入射上升时间的真正的差分 TDR 测量1，可以满足当前zui苛刻的串行数据网络分析 (SDNA) 要求。

80E10B 和 80E08B TDR 模块拥有全面集成的独立双通道 2m 远程采样器系统，使夹具减到zui小，保证了*的系统保真度。 独立采样器偏移校正技术保证快速简便地反嵌夹具和探头。 通过使用一个差分模块的 TDR 阶跃驱动一个线对，同时使用第二个差分模块监测第二个线对，用户可以检定输入串扰。

DSA8300 是业内功能zui齐全的 TDR 测量系统，包含至多 4 个双通道真正差分 TDR 模块，从而具有快速准确的多通道阻抗和 S 参数表征。

P80318 真正差分 TDR 探头和 P8018 单端无源手持式 TDR 探头为检定电路板阻抗和电接口信号提供了高性能探测解决方案。 P80318 是一种 18 GHz 100 Ω 输入阻抗差分 TDR 手持探头，可以对差分传输线进行高保真阻抗测量。 可以调节的探头间隙支持各种差分线路间距和阻抗。 P8018 是一种 20 GHz 单端无源手持式 TDR 探头。 P80318 和 P8018 都可以作为独立式探头使用，它们都采用专门设计，可以与 80A02 EOS/ESD 模块结合使用，提供 EOS/ESD 保护功能。

1 上升时间为 10-90%。 80E10B 的典型反射上升时间 <10 ps。

几千兆位信号路径检定和分析 – 串行数据网络分析 (SDNA)

串行数据网络分析

随着数字电路的时钟速率和上升时间不断提高，互连信号完整性对数字系统的性能影响非常大。 在时域和频域中对信号路径和互连进行准确高效的串行数据网络分析 (SDNA)，对预测信号损耗、抖动、串扰、端接和振铃、数字误码和眼图劣化至关重要，以确保系统可靠运行。

泰克提供多个真正差分 TDR 模块，这些模块与 IConnect® 软件相结合，可以以高达 –70 dB 的动态范围进行 S 参数测量。 这种性能保证了在串行数据分析、数字设计、信号完整性和电接口*性测试应用中进行准确的、可重复的测量。

装有 IConnect® 软件的 TDR 模块性能

通过长记录长度采集技术，IConnect® 提供了巨大的灵活性，在执行 S 参数测量时获得了所需的频率范围和频率阶跃。 可以采集zui多 1,000,000 点数据。

在结合使用 IConnect® 信号完整性 TDR 和 S 参数软件及 DSA8300 时，您可以获得高效、易用、经济的解决方案，基于测量数据评估几千兆位互连链路和器件的性能，包括信号完整性分析、阻抗、S 参数和眼图测试及故障隔离。

IConnect® 可以帮助您在几分钟内、而不是几天内完成互连分析任务，加快系统设计时间，降低设计成本。 IConnect® 还可以进行许多串行数据标准要求的阻抗、S 参数和眼图*性测试，及对几千兆位互连进行全面的通道分析、Touchstone (SnP) 文件输出建模。

故障分析 – 迅速识别问题位置

80E10B 拥有 12 ps 的典型 TDR 上升时间，提供了杰出的分辨率，可以zui快、地隔离封装、电路板和芯片故障分析应用中的问题。

IConnect® 信号完整性 TDR 和 S 参数软件

IConnect® S 参数软件在 DSA8300 TDR 平台上运行，为数字设计、信号完整性分析和互连*性测试中的 S 参数测量提供了、吞吐量zui高的方式，与类似带宽的 VNA 相比，可以节约高达 50% 的成本，明显加快测量速度。

您还可利用 IConnect® S 参数软件的命令行界面，在使用 TDR 仪器进行的整套制造测试中自动进行 S 参数测量，明显缩短测试时间，提高测量可靠性。 可以使用参考源(开路、短路、直通)简便地校准 S 参数，并可以选配 50 Ω 负荷，轻松实现测量、夹具反嵌及移动参考平面。 Touchstone 文件格式输出可以简便地共享 S 参数文件，进一步进行数据分析和仿真。

泰克提供了多款真正差分 TDR 模块，这些模块与 IConnect® 相结合，提供了带宽高达 50 GHz 及动态范围 –70 dB 的 S 参数测量能力。 这一性能超越了串行数据分析、数字设计和信号完整性应用的要求，串扰解析精度达到 1% (–40 dB)，而电接口*性测试模板一般要求在 –10 至 –30 dB 的范围内进行测量。

IConnect® 软件可让您：

• 直接从 TDR/T 或 VNA S 参数测量中，迅速简便地为 PCB、柔性电路板、连接器、电缆、封装、插座和 I/O 缓冲输入生成 SPICE 和 IBIS 模型。
• 显示数字系统中的眼图恶化、抖动、损耗、串扰、反射和振铃。
• 明显简化了互连链路的信号完整性分析、均衡和加重器件设计以及带有发射机和接收机的互连链路分析。
• IConnect® Linear Simulator 可让设计人员把多条互连通道连接起来，评估整体时域和频域性能及整个通道的眼图。

如需进一步了解 IConnect® 应用软件，请参阅“IConnect® 信号完整性、TDR 和 S 参数 SW – 80SICMX ? 80SICON ? 80SSPAR”产品技术资料。

光接口测试应用测量和分析工具

DSA8300 为满足光接口测试应用专门设计的各种测量和分析工具。除标准幅度和定时参数测量外（如上升时间/下降时间、幅度、RMS 抖动、RMS 噪声、频率、周期等）外，DSA8300 的测量套件还包括为测量光接口信号订制的测量（平均光接口功率、消光比、眼图高度、眼图宽度、光接口调制幅度 (OMA)、等等）。如需完整的测量清单，请参阅本产品技术资料的测量部分。

DSA8300 包括从 155 Mb/s 至 100 Gb/s 所有常用光接口标准的标准*性测试模板。DSA8300 模板测试系统能够自动把标准模板和用户模板拟合到采集进波形数据库中的数据。模板测试系统还可以基于模板违例总数或模板违例相对于模板测试单位间隔中采集的样点数的比率，自动确定模板余量。用户还可以创建定制模板，自动进行模板测试。另外还提供了直方图和光标测量，分析 DSA8300 采集的光接口信号。

zui后，80SJNB 应用软件支持全面分析光接口信号的抖动、噪声和 BER。这一软件的高级版本（选项 JNB02）支持评估有损伤的信号的加重和均衡。