泰克串行技术DDR 测试、验证和调试

DDR 内存接口

内存技术继续发展以满足应用要求。新一代技术如 DDR4 和 LPDDR3 采用更高速率来提升性能、更低的 I/O 电压来降低功耗，并支持多种外部形状以满足不同应用需求。

这些因素带来调试和验证挑战，因为需要进行大量更加复杂的新测试来验证和调试设备以更紧凑的裕量、更快的边沿速率和复杂的总线协议工作。

泰克提供zui完整的全套工具进行内存验证和调试。有关我们当前电气和逻辑验证解决方案的详情，敬请访问以下应用页面：

• DDR 电气验证：
  捕捉、测量和鉴定 DDR 内存接口信号行为、抖动、眼图大小、串扰、选通/时钟对准、误码。

• DDR 逻辑验证：
  捕获和测量 DDR 内存接口的数字逻辑状态，执行总线周期的定时和协议分析。
  
   
  
  
• DDR 协议性能验证：
  捕获和分析总线命令、控制时基系列、将结果与内存接口规范比对，并分析作为总线利用率和性能指标的总线流量。