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射频微波测试行业发展 安捷伦参加2014无线会议

更新时间:2014-05-09        阅读:1681

2014年4月9日,北京――日前,由IEEE MTT-S(IEEE微波理论与技术分会)和中国电子学会微波分会联合举办的第二届“无线会议”(IEEE IWS2014)在西安绿地笔克会展中心顺利落幕。作为zui大的测试测量公司,安捷伦科技(NYSE:A)是本次会议的白金赞助商,携手合作伙伴准备了5大展台,展出了的测试测量解决方案,陕西省副省长李金柱出席了此次展览,并参观了安捷伦展台。展会同期,安捷伦还举办了“有源微波器件进阶测试技术讲座”和“航空航天和国防电子测量技术讲座”,共吸引了近350人与会。


陕西副省长李金柱参观安捷伦展台

安捷伦科技本次展出涵盖了毫米波/T赫兹、雷达和电子战、复杂信号产生与分析、4G无线通信、进阶微波器件测试、高速数字电路分析等内容,更是在国内展示了325GHz高精度频谱仪和信号源等样机和系统方案,为客户和业内专家展示了安捷伦的射频微波测试方案。


研讨会现场

展览同期,为了帮助国内客户深入了解微波器件特别是放大器、变频器等有源器件的测试技术,安捷伦举办了“有源微波器件进阶测试技术讲座”。安捷伦元件测试集团科学家Joel Dunsmore 结合现场实物测试演示,为专业客户进行了4小时的有源器件测试技术剖析,深入讲解了测量评估放大器和混频器等复杂有源微波源器件的技术、有效提高校准精度和测试效率的方法、夹具内测试精度优化技术以及大功率测试的优化方法等。


演示安捷伦解决方案

而同期举办的“航空航天和国防电子测量研讨会”则与国内用户一起分享了目前的热点题目,内容涵盖了国防电子、雷达和电子战、微波和通信领域等共计10多个前沿课题。翔实的内容,专业的听众,深度的交流,为国内专业人士和*专家之间以及国内专业人士之间搭建了良好的学术和产业交流机会。

对于未能及时参加此次盛会的观众,也可登陆安捷伦网上测试测量大会的在线平台,安捷伦精挑细选了众多热门应用讲座及相关产品应用视频,让用户可以随时随处了解安捷伦更多产品及解决方案。

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